ZEISS Taramalı Elektron Mikroskobu

Özellikler
• Çözünürlük: ~2 nm (30kV ve LaB6 filament ile)
• Maksimum örnek yüksekliği: 145mm
• Büyütme aralığı: < 5- 1,000,000 x
 
Kabiliyetler
Morfolojik Analiz
İç yapı analizi (faz, tane boyut vs.)
Kırılma yüzeyi ve çatlak analizi
• Yüzey element analizi (1µm’e kadar)
• Bölgesel kimyasal element haritalama
• Düşük basınç altnda, ıslak numune ile çalışabilme imkanı
• Yüzey kaplama kalınlığı ve karakterizasyonu