ZEISS Merlin Taramalı Elektron Mikroskobu

Özellikler
• Çözünürlük: ~0.6 nm (30kV ve FEG filament ile)
• Numune haznesi: 330 mm çap, 270 mm yükseklik
• Analitik çalışma mesafesi: 8.5 mm
• Büyütme aralığı: Polaroid görüntü formatına göre 12x-2.000.000x
• Hızlandırma gerilimi: 0.02 kV - 30 kV
 
Kabiliyetler
• Morfolojik Analiz
• İç yapı analizi (faz, tane boyut vs.)
• Kırılma yüzeyi ve çatlak analizi
• Yüzey element analizi 
• Bölgesel kimyasal element haritalama
• EBSD analizi
• Yüzey kaplama kalınlığı ve karakterizasyonu