Yayın Detayları

Yazar:K. Davut, S. Zaefferer
Başlık:The Reliability of EBSD-based Microstructure Analysis
Kategori:Makale
İndis:Science Citation Index
Yayınlandığı Yer:Microscopy & Microanalysis (Conference special issue)
Yıl:2015
Sayı:21 (S3)
Sayfalar:pp. 2269-2270
Ev Sahibi Şehir:Portland, OR, USA
URLhttp://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=9917529&fileId=S1431927615010922