Yayın Detayları

Yazar:K. Davut, S. Zaefferer
Başlık:A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets
Kategori:Uluslararası Hakemli Konferans
İndis:Diğerleri
Yayınlandığı Yer:Royal Microscopy Society - EBSD 2011 Meeting
Yıl:2011
Sayı:
Sayfalar:
Ev Sahibi Şehir:Düsseldorf, Germany