Yayın Detayları

Yazar:K. Davut, S. Zaefferer
Başlık:Improving the Reliability of EBSD-based Texture Analysis by a New Large Area Mapping Technique
Kategori:Uluslararası Hakemli Konferans
İndis:Diğerleri
Yayınlandığı Yer:ICOTOM 16
Yıl:2011
Sayı:
Sayfalar:
Ev Sahibi Şehir:Mumbai, India