Yayın Detayları

Yazar:K. Davut, S. Zaefferer
Başlık:Improving the Reliability of EBSD-based Texture Analysis by a New Large Area Mapping Technique
Kategori:Uluslararası Hakemli Dergi
İndis:Diğerleri
Yayınlandığı Yer:Materials Science Forum
Yıl:2012
Sayı:702-703
Sayfalar:pp. 566-569
Ev Sahibi Şehir:
URLhttp://www.scientific.net/MSF.702-703.566