Mikroyapı Karakterizasyon

GE-SEIFERT XRD Kalıntı Gerilme ve Doku Analizi Sistemi

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

NICON Eclipse Optik Mikroskop

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

STRESSTECH Delik Delme ve Kalıntı Gerilme Analizi Sistemi

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

STRESSTECH Manyetik Barkhausen Analiz Sistemi

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

STRESSTECH Taşınabilir XRD Kalıntı Gerilme Analiz Sistemi

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

ZEISS Taramalı Elektron Mikroskobu

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

ZWICK Mikro Sertlik Test Ünitesi

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

Brüker - Fourier Transform Infra-Red

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

ZWICK Sertlik Ölçüm Cihazı

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

Brüker Q4 Spektrometre

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

 

ZEISS Merlin Taramalı Elektron Mikroskobu

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

SINT Restan MTS3000

Detaylı bilgi için tıklayınız.

 

 

BRUKER D2 Fazör

Detaylı bilgi için tıklayınız.